l无需标样一键测试

l大面积Si-pin半导体探测器

l微聚焦高集成垂直光路交换装置

微聚焦高集成垂直光路交换装置

前沿的光路聚焦系统设计,实现对极小测量点高效、精准、稳定检测

变焦对焦一体技术

可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围可达35mm

大面积Si-pin半导体探测器

行业更多选择的高性能高分辨率探测器，可大大提升测量精度与稳定性

使用成本低

运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低

使用寿命超长

智能高压控制搭配散热系统,大大提升仪器使用寿命和稳定性

涂镀层分析

Li(3)-U(92)

算法

增强型FP算法

分析软件

可同时分析15层镀层，24种元素

射线方向

从下往上

X射线发生装置

微聚焦增强型射线管

接收器

大面积si-pin半导体探测器

SDD探测器

多道分析器

DPP数字多道分析技术

高压

0-50KV智能程控高压系统

准直器

标配Φ0.3mm（Φ0.3mm/Φ0.2mm/Φ0.5mm三选一）

样品观察

工业 CCD 高清摄像头

放大倍数

光学放大30倍

光斑扩散度

<10%

变焦装置

标配（可测凹凸异形件）

移动平台

标配XY移动平台

外观尺寸

555*573*573mm

腔体尺寸

410*478*245mm