目錄:徠飛光電科技(深圳)有限公司>>波前分析設(shè)備>>波前分析儀>> 紫外波前分析儀SID4-UV
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更新時(shí)間:2025-07-23 11:20:10瀏覽次數(shù):105評(píng)價(jià)
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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紫外波前分析儀SID4-UV是Phasics針對(duì)半導(dǎo)體應(yīng)用市場(chǎng)需求推出的一款高性價(jià)比的紫外波前分析儀,波長(zhǎng)范圍覆蓋190nm~400nm,靶面尺寸為7.8X7.8mm2,提供300X300的采樣率,同時(shí)能夠提供26um的相位空間分辨率;該產(chǎn)品既能夠滿足深紫外激光器的高分辨率測(cè)量要求,也能夠滿足半導(dǎo)體的光學(xué)器件的品質(zhì)管控測(cè)量和半導(dǎo)體晶圓面型的測(cè)量。
應(yīng)用領(lǐng)域:193nm激光光束測(cè)量
半導(dǎo)體設(shè)備用鏡頭測(cè)量
半導(dǎo)體表面缺陷測(cè)量
紫外波前分析儀SID4-UV指標(biāo)規(guī)格 | |
波長(zhǎng)范圍 | 190nm~400nm |
靶面尺寸 | 7.8X7.8mm2 |
相位空間分辨率 | 26um |
相位譜&光強(qiáng)譜采樣率 | 300X300 |
相位分辨率 | <2nm RMS |
精度 | 15nm RMS |
采樣頻率 | 15fps |
實(shí)時(shí)相位輸出頻率 | 2fps(全分辨率) |
通信接口 | Giga Ethernet |
尺寸 | 74 x 71 x 91 mm3 |
重量 | 約600g |
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