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玉崎科學儀器（深圳）有限公司
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一、產品定位
CEM華盛高精度涂鍍層測厚儀是面向金屬加工、航空航天、軌道交通、船舶制造、電子電鍍及第三方檢測實驗室的便攜式精密儀器。該系列設備符合 ISO 2178、ISO 2360、ASTM B499、ASTM E376、DIN EN ISO 2808 等國際規(guī)范，可對鋼鐵、鋁銅及其合金、不銹鋼、陶瓷、塑料等基底上的絕緣或導電涂層厚度進行非破壞性測量，測量范圍 0–2000 µm，最高分辨率 0.1 µm，典型重復性 ≤ ±(1 %H + 1 µm)。
CEM華盛高精度涂鍍層測厚儀是面向金屬加工、航空航天、軌道交通、船舶制造、電子電鍍及第三方檢測實驗室的便攜式精密儀器。該系列設備符合 ISO 2178、ISO 2360、ASTM B499、ASTM E376、DIN EN ISO 2808 等國際規(guī)范，可對鋼鐵、鋁銅及其合金、不銹鋼、陶瓷、塑料等基底上的絕緣或導電涂層厚度進行非破壞性測量，測量范圍 0–2000 µm，最高分辨率 0.1 µm，典型重復性 ≤ ±(1 %H + 1 µm)。
二、產品特性
- 雙原理一體化
• 磁感應（Fe 基）與渦流（NFe 基）雙原理自動識別基底，無需人工切換；
• 支持 F/NFe 自動分選，避免誤測。 - 超高精度與寬量程
• 分辨率 0.1 µm（≤100 µm 檔）；
• 示值誤差 ≤ ±(1 %H + 1 µm)；
• 量程 0–2000 µm（可擴展至 5 mm 特殊探頭）。 - 智能化功能
• 3.5 英寸 TFT 彩色觸摸屏，中文圖形菜單；
• 內置 500 組數(shù)據(jù)存儲，支持 USB-C 導出、藍牙 5.0 打??；
• 實時統(tǒng)計（平均值、最大值、最小值、標準差、Cp/Cpk）。 - 探頭系統(tǒng)
• 紅寶石測頭，維氏硬度 2000 HV，防刮耐磨；
• 可更換微型、直角、長桿、高溫（≤250 ℃）探頭，適應復雜工況；
• 自動探頭零位補償與溫度漂移修正。 - 環(huán)境適應性
• 工作溫度 –10 ℃–50 ℃；
• IP54 防護，1 m 跌落測試通過；
• 內置鋰電池，連續(xù)工作 ≥ 40 h，支持邊充邊測。 - 校準與溯源
• 附帶可追溯 NIM（中國計量院）的一級校準片 5 片；
• 支持用戶自定義兩點、五點校準；
• 軟件內置 ISO 校準提醒周期管理。
三、工作原理
- 磁感應法（Fe 基底）
儀器向鐵磁性基底發(fā)射低頻磁場，探頭內部的霍爾元件檢測磁阻變化。涂層厚度 d 與磁通密度 B 成反比，通過內置算法
d = k / (B – B?)
其中 k 為探頭常數(shù)，B? 為零位基準。 - 渦流法（NFe 基底）
高頻交變電流在探頭線圈產生交變磁場，在導電基底上感應渦流。渦流反磁場削弱線圈阻抗，阻抗變化量與涂層厚度 d 滿足
d = A·ln(Z?/Z) + B
A、B 由校準片標定得到。 - 溫度補償與線性化
內置溫度傳感器實時采集探頭溫度，通過 MCU 對磁導率 μ 與電導率 σ 的溫度系數(shù)進行補償，確保 –10 ℃–50 ℃ 全溫區(qū)精度不變。 - 數(shù)字信號處理
• 32-bit ARM 內核，采樣頻率 200 kHz；
• 采用 IIR 抗干擾濾波器，抑制工頻 50 Hz 干擾；
• 多點校準曲線擬合（最小二乘法），提高非線性段精度。
四、典型應用
• 航空航天：鋁合金陽極氧化膜 5–40 µm 在線監(jiān)測；
• 汽車板件：鍍鋅層 7–15 µm 過程控制；
• 電子電鍍：金手指鍍鎳金 0.5–3 µm 精密檢測；
• 第三方檢測：依據(jù) ISO/IEC 17025 出具可追溯報告。
• 航空航天：鋁合金陽極氧化膜 5–40 µm 在線監(jiān)測；
• 汽車板件：鍍鋅層 7–15 µm 過程控制；
• 電子電鍍：金手指鍍鎳金 0.5–3 µm 精密檢測；
• 第三方檢測：依據(jù) ISO/IEC 17025 出具可追溯報告。
五、維護與校準周期
- 日常維護
– 每次測量后清潔測頭，避免金屬屑劃傷；
– 長期不用時，每月執(zhí)行一次自檢。 - 校準周期
– 工業(yè)現(xiàn)場：≤ 3 個月；
– 實驗室：≤ 6 個月；
– 校準片磨損 > 5 % 即需更換。
六、總結
CEM華盛高精度涂鍍層測厚儀以磁感應-渦流雙原理為核心，結合高靈敏度探頭、智能化軟件與全溫區(qū)補償算法，實現(xiàn)了對各類基底上微米級涂層的快速、無損、高重復性測量。其寬量程、豐富探頭配置及完善的數(shù)據(jù)管理功能，為制造和品質控制提供了可靠保障。
CEM華盛高精度涂鍍層測厚儀以磁感應-渦流雙原理為核心，結合高靈敏度探頭、智能化軟件與全溫區(qū)補償算法，實現(xiàn)了對各類基底上微米級涂層的快速、無損、高重復性測量。其寬量程、豐富探頭配置及完善的數(shù)據(jù)管理功能，為制造和品質控制提供了可靠保障。
