目录:上海首立实业有限公司>>王子计测OSI>> PAM-UHR100王子计测超高位相差測定装置
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 文体,建材/家具,电子/电池,包装/造纸/印刷,综合 |
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王子计测超高位相差測定装置
PAM-UHR100
特点
① 1nm宽测量范围
② 高重复精度±1nm
③ 良好的可操作性
④ 软件
测定对象：
位相差薄膜，塑料，偏振片
光盘
液晶组件
磁带用胶片
收缩薄膜
其他一般用途胶片
用途：
光学功能胶片的研究开发，质量管理
延伸胶片的定向评价(三维折射率，表面定向度)
包装膜的热收缩、撕脱性等的评价
液晶元件的双绞线波长色散特性评估
光学器件的透射椭圆偏振光的评价
王子计测PAM-UHR100超高位相差測定装置
技术参数
仕様 | 内容 |
測定対象 | 透明な延伸フィルム（ＰＣ，ＰＥＴ等） |
測定項目 | 位相差、配向角、複屈折 （位相差範囲 約８００～２００００ｎｍ） |
試料寸法 | □４０ｍｍ 厚み３ｍｍ以下 |
システム構成 | 測定装置本体、ノートパソコン（OS：Windows 7 / Vista / XP） |
温湿度条件 | 10～35℃、20～80％ＲＨ（ただし結露しないこと） |
電源 | AC100V±10％、50／60Hz |
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