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當(dāng)前位置：深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>光學(xué)器件>>測量儀>> MF-5550-0002/MF-5570-0002日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器
產(chǎn)品型號MF-5550-0002/MF-5570-0002
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間：2025-05-07 21:08:29瀏覽次數(shù)：672次
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日本進(jìn)口AMADA壓力監(jiān)測儀測力計測量儀器
日本Pearl光學(xué)鏡頭焦距、曲率半徑測量設(shè)備
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
|---|
日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器 MF-5550-0002/MF-5570-0002 特點介紹
該設(shè)備非常適合評估和檢查智能手機(jī)和其他設(shè)備中安裝的具有鏡頭移位圖像穩(wěn)定 (OIS) 的相機(jī)模塊執(zhí)行器。
通過使用專用目標(biāo)，可以高精度、高速地同時測量五個項目：目標(biāo)物體的傾斜（θX、θY）、位移（Z）和位置（X、Y）。
除了使用激光進(jìn)行自準(zhǔn)直儀角度測量之外，還可以同時測量位移（X、Y、Z）和旋轉(zhuǎn)角度的測量儀器。
隆重推出可實時捕捉一切的創(chuàng)新產(chǎn)品。這些創(chuàng)新產(chǎn)品將您的測量概念提升到一個新的水平。
此外，我們還將介紹一種利用干涉的鏡頭波前像差測量裝置。
日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器 MF-5550-0002/MF-5570-0002 規(guī)格參數(shù)
MF-5550-0002
主要規(guī)格
測量范圍
傾斜 (θX-θY)：±60 分鐘（圓形范圍）
位移 (Z)：±1mm
位置 (XY)：±0.5mm
工作距離：80±0.5mm
輸出更新率：10,000次/秒
MF-5570-0002
測量范圍
傾斜 (θX-θY)：±60 分鐘（圓形范圍）
位移 (Z)：±1mm
位置 (XY)：±0.7mm
工作距離：80±0.5mm
輸出更新率：10,000次/秒
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