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當前位置：深圳秋山工業(yè)設備有限公司>>外觀分析設備>>測量裝置>> MS-2000日本katsura自準直儀角度高精度測量裝置
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
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日本katsura自準直儀角度高精度測量裝置 MS-2000 特點介紹
該設備非常適合評估和檢查智能手機和其他設備中安裝的具有傳感器移位圖像穩(wěn)定功能的相機模塊執(zhí)行器。
通過使用特殊的專用目標，可以高精度地同時測量目標物體的六項：傾斜（θX，θY）、位移（Z）、位置（X，Y）和旋轉（θ）。
測量范圍
傾斜 (θX-θY)：±60 分鐘（圓形范圍）
位移 (Z)：±1 mm
位置 (XY)：±0.5 mm
旋轉 (θ)：±90 分鐘
工作距離：90±0.5mm
日本katsura自準直儀角度高精度測量裝置 MS-2000 規(guī)格參數(shù)
除了使用激光進行自準直儀角度測量之外，還可以同時測量位移（X、Y、Z）和旋轉角度的測量儀器。
隆重推出可實時捕捉一切的創(chuàng)新產品。這些創(chuàng)新產品將您的測量概念提升到一個新的水平。
此外，我們還將介紹一種利用干涉的鏡頭波前像差測量裝置。
該設備非常適合評估和檢查智能手機和其他設備中安裝的具有傳感器移位圖像穩(wěn)定功能的相機模塊執(zhí)行器。
通過使用特殊的專用目標，可以高精度地同時測量目標物體的六項：傾斜（θX，θY）、位移（Z）、位置（X，Y）和旋轉（θ）。
傾斜 (θX-θY)：±60 分鐘（圓形范圍）
位移 (Z)：±1 mm
位置 (XY)：±0.5 mm
旋轉 (θ)：±90 分鐘
工作距離：90±0.5mm
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