您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)！ 登錄| 免費注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)！ 登錄| 免費注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
13823182047
當(dāng)前位置：深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>外觀分析設(shè)備>>檢測儀>> Crystalline Tester CS1日本ceramic forum晶片內(nèi)位錯檢測儀便攜式
產(chǎn)品型號Crystalline Tester CS1
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間：2025-05-06 12:05:22瀏覽次數(shù)：445次
聯(lián)系我時，請告知來自 化工儀器網(wǎng)
日本applics監(jiān)測半導(dǎo)體制造工藝臭氧濃度計
日本進(jìn)口applics臺式臭氧氣體監(jiān)測儀濃度計
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
|---|
日本ceramic forum晶片內(nèi)位錯檢測儀便攜式 Crystalline Tester CS1 特點介紹
"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測可見光（波長400～800nm）透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設(shè)備。
通過本設(shè)備可以實現(xiàn)快速、準(zhǔn)確地把握目檢下無法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài)。
日本ceramic forum晶片內(nèi)位錯檢測儀便攜式 Crystalline Tester CS1 規(guī)格參數(shù)
產(chǎn)品特長 高速測量（6" 襯底 90秒）
?可以最快速度簡捷方式觀察殘留應(yīng)力分布。
縱向結(jié)晶評價
?因為是透視型結(jié)晶評價裝置，所以不只可以觀察襯底表面，還可以觀察包括Z軸方向的晶圓所有部位。
可取得與X-Ray Topography imaging comparison同等測試效果
?可以取得同等測試效果，實現(xiàn)高速低成本。
價格競爭力
?在晶片測量裝置中，屬于性價比好的一款系統(tǒng)。
可測量材料 SiC單晶襯底、及SiC外延襯底
GaN單晶襯底、及GaN外延襯底
AlN單晶襯底、及AlN外延襯底
可視光可透視、有雙折射效果的結(jié)晶均可。
測試效果不佳材料 ?無可視光透視性材料：Si、GaAs等
?無雙折射效果材料：藍(lán)寶石、Ga2O3 等
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé)，化工儀器網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示：為規(guī)避購買風(fēng)險，建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。
化工儀器網(wǎng)