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當(dāng)前位置：> 供求商機(jī)> 寫真化學(xué)通過顯微圖像光譜測厚儀
由于薄膜厚度是通過光學(xué)干涉法計算的，因此
薄膜厚度分布可以以 0.1 nm 或更低的分辨率以 3D 形式顯示。
在顯微鏡視場中測量任意區(qū)域的薄膜厚度和薄膜質(zhì)量分布
，并以 3D 形式顯示分布
分辨率與可見光波長光學(xué)涂層測厚儀相當(dāng)
波長范圍從 450 nm 到 750 nm，可以 1 nm 的增量
使用與反射膜厚度監(jiān)視器相同的計算引擎進(jìn)行并行計算
（1） 數(shù)百層重復(fù)層壓薄膜和溝槽等復(fù)合結(jié)構(gòu)
（2） 用 EMA（有效介質(zhì)近似）法估計亞微米圖案的密度
（3） 局部結(jié)晶度評估
您可以根據(jù)工件和應(yīng)用選擇物鏡
半導(dǎo)體
太陽能電池
平板顯示器
玻璃（涂層）和
薄膜
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