內(nèi)校分析電子天平是一種具備自動校準功能的高精度稱量設備，廣泛應用于實驗室、制藥、化工等領域。其核心優(yōu)勢在于無需外部砝碼即可實現(xiàn)快速校準，確保稱量結果的長期穩(wěn)定性和準確性。
核心結構與原理：
1.內(nèi)部校準砝碼：
內(nèi)置高精度砝碼（如100g或200g），通常位于天平底部或側面。
材質(zhì)為不銹鋼或特殊合金，經(jīng)過激光校準，精度可達±0.01%。
2.傳感器技術：
電磁力平衡傳感器：通過電磁力補償樣品重量，實現(xiàn)快速響應。
應變片傳感器：利用金屬應變片的形變測量重量，適合靜態(tài)稱量。
3.自動校準流程：
觸發(fā)條件（定時/溫度變化/開機）：天平自動加載內(nèi)部砝碼。
傳感器檢測砝碼重量，與預設值對比。
調(diào)整內(nèi)部參數(shù)（如增益、偏移量），完成校準。
校準結果記錄并顯示（如“CAL Done”）。
內(nèi)校電子天平與外校天平的對比：
| 對比項 | 內(nèi)校天平 | 外校天平 |
| 校準方式 | 自動加載內(nèi)部砝碼 | 需手動放置外部砝碼 |
| 便捷性 | 高（適合實驗室高頻使用） | 低（依賴外部砝碼管理） |
| 校準范圍 | 受限于內(nèi)部砝碼重量（如200g） | 可擴展至全量程（如1kg+） |
| 成本 | 較高（內(nèi)置砝碼+復雜結構） | 較低（結構簡單） |
| 適用場景 | 常規(guī)分析（≤200g） | 大質(zhì)量稱量或特殊精度需求 |
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