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磁性測(cè)厚法是利用電度原理測(cè)定磁性基體上元磁性涂層厚度的方法 。 該法適用于磁性基體上的非産性涂層或化學(xué)保護(hù)層的厚度測(cè)量。
該法在測(cè)量前應(yīng)在標(biāo)樣上對(duì)儀器進(jìn)行系統(tǒng)調(diào)節(jié),從而確保其測(cè)量精度 。 也可在無涂層基體上送行調(diào)節(jié),此時(shí)應(yīng)對(duì)標(biāo)樣和無涂層基體進(jìn)行置零比較,其厚度差稱為修正值,供需雙方統(tǒng)一試樣、統(tǒng)一方法,從而確定修正值 。 采用磁性法測(cè)定法層厚度時(shí),按下述一些慣例進(jìn)行。
基準(zhǔn)面為1cm2時(shí)，最小局部厚度的測(cè)量見下表：
注：1、曲面探頭與涂層表面的接觸為1點(diǎn)，圖中用“×"表示；
2、扁平探頭與涂層表面的接觸為1面，圖中用“○"表示，扁平探頭的面積應(yīng)小于φ 3mm的圓面積。
基準(zhǔn)面為1dm2時(shí)，無論采用什么型號(hào)的儀器以及何種探頭測(cè)量，均按圖所示10點(diǎn)法，在該基準(zhǔn)面上做10次測(cè)量，取其平均值。
影響測(cè)量值的因素：
1、涂層本身某些因素影響，如厚度、電導(dǎo)率和表面粗糙度；
2、基體金屬本身某些因素影響，如厚度、磁性、曲率、表面粗糙度、機(jī)械加工方向和剩磁等；
3、外來因素的影響，如周圍的磁場和外來附著物等；
4、測(cè)量技巧的影響，如探頭壓力，探頭取向和邊緣效應(yīng)等。
上述各因素的影響應(yīng)按GB 4956的規(guī)定予以排除和校正。
