產品名稱： Luceo-偏振鏡-LSM-9001NIR

產品型號： LSM-9001NIR

產品介紹： 評估半導體晶片、彩色玻璃和彩色丙烯酸樹脂產品等低相位差樣品的二維分布應變。1 分鐘內可評估約 50 x 50 毫米的樣品。只需放置要測量的物體并點擊測量按鈕。通過內置攝像頭捕捉的信息即可獲得測量結果。由于無需測量人員進行判斷，因此消除了由判斷引起的測量誤差。它能夠對半導體晶片、有色或透明產品、殘余應力和裂縫進行應變評估，而傳統(tǒng)的偏振鏡是無法測量這些應變的。二維分布圖上的橫截面圖形、任意設置區(qū)域的直方圖、二維分布圖的三維顯示、測量結果的 csv 存儲和圖像存儲。這些功能都包含在軟件中。它們對分析評估結果很有用。采用高亮度 LED 作為光源。這減少了與更換光源相關的維護時間和運行成本。

性能特點： 

全自動測量減少了測量人員的工作量和測量誤差

能夠對半導體晶片、有色或透明產品、殘余應力和裂縫進行應變評估

使用軟件分析工具

壽命長、省電

產品結構與細節(jié)： 

元件：主機、PC、電纜

附件：主機蓋

技術參數： 

產地：日本

檢測方法：近紅外旋轉分析法

測量范圍（約）：0～150 nm（延遲）

測量區(qū)域尺寸：（約）50×50 mm

測量物體放置空間（高度）：Max 160 mm

尺寸：寬 300 × 深 353 × 高 540 mm

重量：22 kg

光源：高亮度 LED

電源：AC 100～240 V 50/ 60 Hz

直流輸入：24 V 1.6 A

操作系統(tǒng)：Windows10 Pro (64bit)

系統(tǒng)語言：日語/ 英語

產品應用： 

對半導體晶片、有色或透明產品、殘余應力和裂縫進行應變評估