XF-A5SLite是西凡仪器在2025年推出的一款光路全新升级的贵金属检测仪，可广泛应用于贵金属产业链。该产品搭载美国AMPTEK定制Si-PIN探测器，内置Intel十核CPU电脑，采用Smart FP算法，创新性应用西凡第二代X射线与可见光共焦点垂直光路，可获得更小的实际照射焦斑。检测速度快，测试稳定性好、准确性高，性价比更高。

产品特点

元素检测范围：钾(19)～铀(92)

可支持最多30个元素同时计算

镀层报警、铼钨检测报警

分析范围：

贵金属：0.010%～99.999%

液体：10mg/L~200g/L

检测精度：

贵金属：±0.03%(9999金)

液体：RSD≤2.5%

检测样品：贵金属合金/液体

支持多点连续测试，测试效率高

核心部件

探测器：美国AMPTEK定制Si-PIN

探测器面积：6mm²

分辨率：145±5eV

内置工控电脑：Intel i3十核

高压电源：50KV/1mA数字高压电源

X射线管：50KV/1mA

窗口材料：铝

靶材：钨

焦点：Φ0.5mm

准直器：Φ2.0毫米