XF-S6是西凡仪器推出的旗舰款多功能X射线荧光光谱仪，可广泛应用于贵金属产业链、电镀产业链、宝石产业链等行业。该产品搭载美国AMPTEK定制Fast-SDD探测器、配备多准直器和多滤光片，内置Intel 12核CPU工控电脑，采用Smart FP算法，创新性应用西凡第二代X射线与可见光共焦点垂直光路，其可获得更小的实际照射焦斑。能够精准分析贵金属成分、宝石成分、RoHS有害物质、镀层厚度、矿石成分和离子浓度等，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。

产品特点

元素检测范围：铝(13)～铀(92)          

可支持最多30个元素同时计算

可支持4层镀层厚度及合金镀层分析

可支持宝石人工/天然分析

镀层报警、铼钨检测报警

分析范围：

贵金属：0.010%～99.999%

镀层：0.001um~80um

液体：5mg/L~200g/L

RoHS：10ppm~99.999%

检测精度：

贵金属：±0.01%(9999金)

镀层：RSD≤1.5%

液体：RSD≤1.5%

RoHS：1ppm（理想状态）

检测样品：

合金/镀层/宝石/珍珠/液体/粉末/RoHS

支持多点连续测试，测试效率高

支持连接天平采集重量数据以及获取黄金实时牌价计算价格

支持自动计算多结果的平均值和RSD

遵守ISO23345及ISO3497标准

核心部件

探测器：美国AMPTEK定制Fast-SDD

探测器面积：25mm²

分辨率：125±5eV

内置工控电脑：Intel i5十二核

高压电源：50KV/1mA数字高压电源

X射线管：50KV/1mA

窗口材料：铍

靶材：钨

焦点：Φ0.1mm

准直器：Φ0.5mm+Φ1.5mm