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当前位置：上海首立智慧科技有限公司>> XGT-1700WRX射线荧光光谱仪『Horiba RoHS/ELV/WEEE分析仪』
测定数据
黄铜中Cd41ppm?Pb495ppm 重复测定为例
照射径Ø3mm?测定时间300秒
Cd浓度（ppm） Pb浓度（ppm）
1 37.3 509.2
2 41.2 488.4
3 40.2 492.9
4 46.8 486.5
5 43.3 482.6
平均值41.8 491.9
标准偏差 3.6 10.3
CV 8.5% 2.1%
无电解Ni镀层（14.3μm）中 Pb700ppm 重复测定为例
照射径Ø3mm?测定时间300秒
Pb浓度（ppm） 膜厚（μm）
1 735.7 13.7
2 708.8 14.4
3 750 13.5
4 707.8 13.9
5 693 13
平均值 719.1 13.7
标准偏差 23.2 0.5
CV 3.2% 3.7%
产品性能
XGT-1700WR系列
X线照射径 Ø3mm标准 Ø1.2mm或Ø100μm （可?。?/p>
一次X线滤膜
Ø3mm照射径:4种自动切换
Ø1.2mm照射径:5元素同时分析用滤膜或无滤膜
Ø100μm照射径:无滤膜
二次X线滤膜
用于金属中有害元素高灵敏度测定的标准装备
（ON/OFF自动切换）
X线检测器
液体氮气冷却3L
高纯度Si检测器
样品形状
zui大460×360×149mm
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