粒度粒形分析仪 LD020分析系统以多种方式输出多类特征参数，表征样品的粒度分布情况，为用户的生产制造品质管控提供数据支持。

系统支持多视场粒度数据综合汇总，确保样本空间满足统计要求；从而避免取样数量不足产生的测量偏差，使粒度分析结果更接近生产实际。

粒度粒形分析仪 LD020系统可以通过颗粒尺寸的各类数据表、直方图、曲线等方式，表征样品的粒度分布情况。

系统支持自定义常用粉体；依据定义的常用粉体粒度分级参数，统计输出每类粉体的数量百分比，进而可以对粉体样品进行命名或定级。

提供专业的粒度分布测量报告，内嵌统计数据、分级直方图、分布曲线、特征参数、原始图像和颗粒分类图像。支持个性化报告模板设计。

技术参数：

1. 可以在图像上显示标比例尺、十字网格线、时间等(1μm -100(u m)。

2. 重复性误差:<5%

3.等效粒径:等面积圆、等周长圆、等效短径、等效长径、

4.粒度统计:体积、面积、颗粒

5.形状参数:圆度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度

6. 光学传感器:CCD 线性传感

7.成像系统:1000万像素

8.具备6级报告过滤功能