13554135472
当前位置：武汉辰龙天和科技有限公司>>高精度光谱共焦>> HCI-500系列纳米膜厚测量 光谱干涉传感器
| 应用领域 | 化工 |
|---|
光谱干涉_白光干涉_膜厚测量_纳米膜厚测量 光谱干涉传感器HCI-500系列
光谱干涉测量传感器基于薄膜干涉原理，薄膜可以是透明固体、液体或由两块玻璃所夹的气体薄层。入射光经薄膜上表面反射后得第一束光，折射光经薄膜下表面反射，又经上表面折射后得第二束光，这两束光在薄膜的同侧，由同一入射光振动分出，是相干光，属分振幅干涉。当由一组波长组成的白光入射到薄膜上时，某些波长的光被增强，而某些波长的光则被减弱。通过对混合的两个波前产生的光干涉条纹进行光谱分光，测算干涉信号的频率光谱，计算解析出被测样品的厚度（或层间隙）。
纳米膜厚测量 光谱干涉传感器
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，化工仪器网对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
化工仪器网