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優(yōu)云譜小麥表型測量儀

小麥育種研究中，小麥表型參數至關重要，小麥表型檢測儀可用于小麥株高、夾角、基粗、小麥畝穗數、理論產量、穗長、小穗數、總粒數和千粒重等指標的測量，可多點快速取樣數據可批量分析并獲取平均值。這些表型參數在小麥品種篩選、小麥產量預測、麥穗動態(tài)發(fā)育、基因定位、功能解析和小麥遺傳育種中發(fā)揮著至關重要的作用。軟件集合多方面功能為一體，一站式解決小麥的表型參數測量問題。廣泛適用于各農科院、高校、育種公司、種子站的小麥研究。

優(yōu)云譜小麥表型測量儀應用廣泛：

1、小麥畝穗數檢測合適時期： 小麥抽穗期、開花期、灌漿期、成熟前期的小麥。

2、麥穗形態(tài)測量的時期：室內考種時期：

3、小麥夾角測量時期：抽穗期、開花期、灌漿期、乳熟期。

4、千粒重測量時期： 室內考種時期。

5、小麥株高測量時期： 各個生育時期。

三、技術參數：

測量范圍和誤差： 

1、小麥畝穗數測量誤差： ≤±5%。 

2、麥穗形態(tài)測量范圍：   5~20cm。

穗長誤差：      ±2%。 

小穗數誤差：    ≤ 3個。 

3、小麥夾角測量范圍：   0-180°。   

作物粗：        0-5.2cm。 

夾角測量誤差：  +5%。 

4、作物莖粗測量誤差：   ±1%。 

5、千粒重測量誤差：     ±2%。 

6、株高測量范圍：       0.1-1.1m。 

測量誤差：      ±1%。