会议伊始，赛默飞材料与结构分析部门半导体业务商业副总裁朱雪雁女士首先发表了开场致词。她表示，赛默飞作为一家拥有40多年历史的美国企业，始终秉持着开放、合作的态度，热情地面向中国企业。我们深知中国市场的重要性，并对其充满信心。正因如此，赛默飞不断加大在中国的投资力度，致力于更好地服务本地客户。今天的活动不仅是提供了一个展示与分享的机会，更是搭建了我们与京东方携手共创、共同成长的平台。希望通过更深入的经验交流，为大家带来启发和收获。
随后，京东方开发领导也表达了对赛默飞团队到来的欢迎。他说，多年来，赛默飞凭借先进的设备和优秀的技术支持，为企业在研发和生产过程中提供了重要帮助。同时，京东方也希望通过更多的专业培训，更充分地挖掘设备的潜力，放大其在生产和研发中的价值。希望未来京东方与赛默飞能加强沟通与交流，携手攻克技术难题，共同探索创新解决方案。
紧随其后的是各项报告议程。赛默飞PFA高级业务拓展经理曹潇潇首先带来报告《助力显示行业失效分析与研发创新——赛默飞PFA解决方案》。报告全面介绍了赛默飞在半导体领域的角色及其全流程解决方案，包括如何通过失效分析（FA）提升良率。展示了在显示器件分析的应用流程及关键产品，如Helios 5 Hydra、Metrios 6等。强调了TEM自动化、精准度及工作流优化如何帮助客户解决量测难题。报告全面呈现了赛默飞通过技术创新，推动更快的数据处理、更复杂的3D结构问题解决以及更高的生产力，以应对显示面板行业的技术挑战。
赛默飞TEM业务拓展经理章春阳和PFA业务拓展经理杨维新携手带来了专业报告《探索OLED失效之谜——PFA分析技术与案例研究》。他们的报告聚焦面板行业在研发方面遇到的挑战，对电子显微学如何帮助解决面板行业的研发热点问题进行了深入探讨，并结合显示面板行业常见的失效案例分享，展示赛默飞在物性失效分析的解决方案，如Apreo 2 SEM，Helios 5 系列的Ga+ FIB， PFIB/Hydra和Talos TEM等，详细讲解了这些设备如何帮助客户解决包括在TFT背板、TFE封装层、OLED有机发光层、柔性显示等领域面临的失效分析问题，帮助推动显示行业的技术创新及良率提升。
最后，赛默飞EFA高级业务拓展经理唐涌耀为京东方同仁们分享了《电性失效定位在FPD中的应用》。报告中唐经理重点介绍了赛默飞的半导体电性失效分析（EFA）设备在平板显示（FPD）领域的专业解决方案和技术特点。ELITE设备凭借高灵敏度的锁相热成像技术，可快速精准定位IC、FPC线路、触控面板等?？榈牡缧允?。其InSb相机具备高分辨率、广视野和快速成像能力，提升故障定位效率和准确性。Meridian S系统通过EMMI/OBIRCH技术实现精准定位样品漏电位置。纳米探针系统nProber IV采用SEM成像平台，搭载8根纳米探针完成最小单元电性表征和失效分析。
赛默飞的综合EFA解决方案有效提升了FPD领域的故障诊断效率和成功率。
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