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PCTS-2000E偏置电场下热释电系数测试系统采用直接测量法，在热释电材料两端施加直流偏场的条件下，测量热释电材料在均匀升温过程中释放出来的热释电电流，计算得到场致热释电系数，适用于各种热释电薄膜、厚膜、单晶、陶瓷材料等的测试。
场致热释电系数测试主要性能指标：
a. 测量范围：0.1 pA ～ 1 μA
b. 测量精度：10 fA
c. 样品类型：单晶、块体、膜
d. 最大样品厚度：10 mm
e. 最大样品尺寸：Φ30 mm
f. 样品形状：不限
g. 直流偏?。?/span>0～5000 V可调
h. 高压击穿保护：有
i. 温度范围：RT ～ 260 ℃
j. 控温精度：±0.1 ℃
k. 升降温速率：1～10 ℃/min
l. 具有控温故障诊断监控、超温自动断电?；すδ?/span>
本测试系统由主控器、高压电源、高温测试箱（配热释电测试夹具）、计算机及系统软件部分组成。主控器实现高压信号发生器、收集热释电电流、与PC通讯等功能，系统软件包括可视化数据采集和管理功能，测试时，按要求安装样片后，一键启动热释电系数测量，测量过程曲线和测试结果自动保存。
配置的高温测试箱，以电阻丝为加热元件，采用T型热电偶和可编程温度控制器。炉膛采用全金属炉膛，温度可达260℃，控温精度±0.1℃；同时设有通气接口，可用于惰性气体下使用。具有温度场均衡、控温准、升降温速率快等优点。
先后有华中科技大学、四川大学、南京理工大学、上海师范大学、河北大学、湖北大学、江西科技学院等单位选购PCTS-2000-E偏置电场下热释电系数测试系统，已助力客户在ACS AMI、J AM CERAM SOC、ACTA MATER等国内外顶级期刊发表优秀论文，产品详细资料请咨询我司。
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