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·高性能和高性价比的科学研究级AFM
·支持多种工作模式和多种功能?？槔┱梗憔蠖嗍幕】蒲杏τ?br />·开放式的结构设计，支持更多定制化的功能选择
·XYZ三轴独立闭环压电陶瓷扫描器，同时实现高精度的定位和高分辨扫描测量
·闭环压电陶瓷扫描测量无需非线性校正，纳米表征和测量精度优于99.5%
产品简介
详细介绍
(科研型) |
原子力显微镜 |
FM-Nanoview R-AFM |
产品特色 Product Feature |
·高性能和高性价比的科学研究级AFM ·支持多种工作模式和多种功能模块扩展，满足绝大多数的基础科研应用 ·开放式的结构设计，支持更多定制化的功能选择 ·XYZ三轴独立闭环压电陶瓷扫描器，同时实现高精度的定位和高分辨扫描测量 ·闭环压电陶瓷扫描测量无需非线性校正，纳米表征和测量精度优于99.5% 技术参数 Technical Parameters |
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扫描范围 | XY闭环100*100um，Z闭环10 um | 系统噪音水平 | RMS≤30 pm |
扫描分辨率 | XY闭环0.2nm， Z闭环0.04nm | 图像采样点 | 最高4096*4096 |
扫描速度 | 0.1Hz~100Hz | 减震方式 | 气浮式减震台或主动式减震台 |
标准成像模式 | 接触模式、轻敲模式、相位成像、测向力模式（LFM） | ||
力学测量模式 | F-Z力曲线、RMS-Z曲线、高级力谱成像、力学Mapping测量 | ||
电学测量模式 | 静电力模式（EFM）、导电力模式（C-AFM）、开尔文探针力模式（KPFM）、压电力模式（PFM）、扫描电阻模式（SSRM）、扫描电容模式（SCM） | ||
磁学测量模式 | 磁力模式（MFM）、可调制外加磁场 | ||
纳米刻蚀功能 | 力学刻蚀、电学刻蚀 | ||
环境控制功能 | 液体成像模式、密闭气氛控制模式（特殊气体）、冷热一体温控模式（-20℃~200℃）、电化学测量模式 | ||
光学辅助功能 | 可适配体视显微镜、正置金相显微镜、倒置生物显微镜联用 | ||
n 应用案例 Application Case |
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