Park XE 15通用型原子力顯微鏡通過多重采樣™ 掃描進(jìn)行便捷樣品測(cè)量

無軸間耦合提高掃描精度

N o n - C o n t a c t ™ （真正非接觸™ ）模式延長(zhǎng)

針尖使用壽命、改善樣品保存及精度

提供最佳用戶體驗(yàn)

選項(xiàng)/ 模式多樣化
 

Park XE 15通用型原子力顯微鏡有適合大眾化的各種掃描模 式 ，能 滿足您的 所 有 研 究 需求：

1. 表 面 粗 糙 度 測(cè) 量

2. 電 性 能

3. 機(jī) 械 性 能

4. 熱 性 能

5. 磁 性 能

在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展如火如荼的今天，上海磊微伴隨著行業(yè)不斷學(xué)習(xí)、積極提升自身水平， 為越來越多的客戶提供了專業(yè)的產(chǎn)品和服務(wù)。今后，磊微將以不斷培育的市場(chǎng)為依托，以良好優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品為核心，以高效運(yùn)作的團(tuán)隊(duì)為基礎(chǔ)，迎來更快更好的發(fā)展。我們一直秉承團(tuán)結(jié)創(chuàng)新、嚴(yán)謹(jǐn)奮進(jìn)的企業(yè)精神，秉承誠(chéng)信務(wù)實(shí)、互利多贏的經(jīng)營(yíng)理念，努力為客戶、為社會(huì)提供高品質(zhì)產(chǎn)品和服務(wù)。