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測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN220代理
1、菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN220特點
優(yōu)化珠寶、錢幣和貴金屬的無損分析
固定光圈和固定濾光鏡，特別適用于貴金屬分析
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD) 的型號還適用于更復(fù)雜的多元素分析
由下至上的測量方向可以更簡便地實現(xiàn)樣品定位
2、菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN220典型應(yīng)用領(lǐng)域
珠寶和鐘表行業(yè)中的黃金和貴重金屬分析
牙科合金分析
型號 項目 | XDLM-231 | XDLM-237 | ||
通用規(guī)格 | 設(shè)計用途 | 能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) ，測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)樣品，分析合金組分 | ||
元素范圍 | 從元素氯 (17) 到鈾 (92)，最多可以同時測定24種元素 | |||
工作臺 | 平臺 | 固定式樣品平臺 | 馬達驅(qū)動可編程X/Y平臺 | |
可用樣品平臺 | 463mm x 500mm | 300mm x 350mm | ||
X/Y平臺最大移動距離 | \ | 255mm x 235mm | ||
X/Y平臺最大移動速度 | \ | ≤80mm/s | ||
X/Y平臺移動重復(fù)精度 | \ | ≤0.01mm（單向） | ||
樣品最大重量 | 20kg | 5kg，降低精度可達20kg | ||
樣品最高高度 | 140mm | |||
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