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菲希爾X射線測厚儀FISCHER XDL220
熒光射線測厚儀菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE-X-RAY XDL-210典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
? 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
? 測量薄鍍層，例如裝飾鉻
? 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
? 全自動(dòng)測量，如測量印刷線路板
? 分析電鍍?nèi)芤?/p>
菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE-X-RAY XDL-210設(shè)計(jì)理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計(jì)為界面友好的臺(tái)式測量儀器系列。我們會(huì)根據(jù)樣品平臺(tái)的運(yùn)行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來設(shè)定不同型號(hào)的儀器以滿足實(shí)際應(yīng)用的需求。
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