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菲希爾X射線測厚儀Fischer XDL230
菲希爾X射線測厚儀FISCHER XDL230典型的應用領域有：
● 測量大規(guī)模生產的電鍍部件
● 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
● 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層
● 測量印刷線路板
● 分析電鍍溶液
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
菲希爾代理XDL230 有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經常校準儀器
比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。
由于采用了FISCHER基本參數法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。
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