FISCHER XDL210

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210菲希爾X射線測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自動檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
XDL 210菲希爾X射線測厚儀特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
• 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
• 全自動測量，如測量印刷線路板
• 分析電鍍?nèi)芤?/p>