泰勒霍普森、粗糙度仪DUO

泰勒霍普森便携式仪器SURTRONIC DUO粗糙度测量仪

型号：SURTRONIC DUO

探头系统：探头系统

表面粗糙度测量范围：199μm，40μm

扫描路径：5mm

表面粗糙度分辨率：0.01μm

阈值波长：0.8 mm

数据传输类型：USB

英国泰勒霍普森粗糙度测量装置SURTRONIC DUO，具有内部进料单元的移动粗糙度测量装置，小巧便携，通用功能，用户友好的界面，适合地板等表面粗糙度测量。

应用：

用户友好的移动粗糙度测量装置，用于参数Ra，Rz，Rp，Rv，Rt，Rz1max，R3z（戴姆勒DB N 31007），Rsk，Rq和Rku的标准粗糙度测量。