菲希尔XDAL600

菲希尔X射线Fischer X荧光射线测厚仪特点

菲希尔X射线测厚仪Fischer x荧光分析仪采用DIN ISO 3497和ASTM B 568标准，用于自动测量达到0.05μm的

ppm级含量的材料分析的通用X射线荧光光谱仪

无锡骏展仪器供应3种不同的探测器可?。⊿i-PIN二极管；SDD 20 mm2；SDD 50 mm2）

无锡骏展仪器供应3种可切换基本滤片

无锡骏展仪器供应4种可切换准直器

最小测量点约为0.15mm

样品最高高度可达14cm

可编程XY工作台，定位精度为10µm

开槽箱体设计用于测量大的印刷电路板

经过认证的全面?；ど璞?/p>

菲希尔X射线测厚仪Fischer x荧光分析仪应用

菲希尔X射线测厚仪Fischer x荧光分析仪镀层和合金（也包括薄涂层和低浓度）的材料分析

菲希尔X射线测厚仪Fischer x荧光分析仪电子行业，ENIG，ENEPIG

连接器和触点

黄金，珠宝和制表业

PCB制造薄金（几纳米）和钯镀层的测量

微量元素分析

高可靠性应用的铅（Pb）的测定（避免锡晶须）

对硬质材料涂层的分析