菲希爾、Fischer代理

FISCHERSCOPE X-RAY XDL是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。

比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。zui多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。