菲希尔X射线测厚仪XDLM 237

德国FISCHER XDLM 237应用领域：

 X射线荧光镀层测厚材料分析仪

• 大批量电镀件测量

• 防腐和装饰性镀层，如镍或铜上镀铬

• 电镀行业槽液分析

• 线路板行业如薄金，铂和镍镀层的策略

• 测量接插件和触点的镀层

• 电子和半导体行业的功能性镀层测量

• 黄金，珠宝和手表行业

工作台：

设计：马达驱动可编程X/Y平台

移动范围：255x 235mm

X/Y平台移动速度：≤80 mm/s

X/Y平台移动重复精度：≤0.01 mm，单向

可用样品放置区域：300 x 350mm

Z轴：可编程运行

Z轴移动范围：140mm

样品:重量5kg，降低精度可达20kg

样品:高度140mm