德國(guó)FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，它非常適用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析。

菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它非常適用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

XDL230 有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器，比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了FISCHER基本參數(shù)法，因此無(wú)論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品，儀器都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量和分析。