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SunScan 冠層分析儀系統(tǒng)（無(wú)線）用途：通過(guò)測(cè)量作物冠層PAR值，提供影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）
一用途HemiViewHMV.10通過(guò)處理影像數(shù)據(jù)文件來(lái)獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況
一用途：通過(guò)測(cè)量作物冠層PAR值，提供影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）
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