FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240菲希爾測厚儀
FISCHERSCOPEX-RAYXUL和XULM系列熒光鍍層測厚儀介紹：
多用途的鍍層厚度測量儀。無論是薄的還是厚的鍍層（如50 nm Au或100 μmSn）都通過選擇好的高壓濾片組合很好地測量。微聚焦管可以達(dá)到在很短的測量距離內(nèi)小到100 μm的測量點(diǎn)大小。高達(dá)數(shù)kcps的計(jì)數(shù)率可以被比例接收器接收到。對于FISCHERSCOPE X-RAYXUL和XULM系列來說，X射線源和接收器位于測量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺簡化了操作，特別是在日常生產(chǎn)中測量大量部件時(shí)特別有用。盡管結(jié)構(gòu)緊湊，但這些儀器都有大容量的測量室，這樣大的物品也可以測量。殼體的開槽設(shè)計(jì)（C型槽）可以測量諸如印刷線路板類大而平整的樣品，即使這些樣品可能無法*放入測量室，樣品直接放置在平整的支撐臺上，或者定位精度更高的手動XY工作臺上。
FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240菲希爾測厚儀
Fischer Dualscope MP0測厚儀
DualScope MP0 袖珍式涂鍍層測厚儀：涂鍍層測厚儀（別名：涂層測厚儀，鍍層厚度測量儀，涂鍍層厚度無損測量儀，手持式涂鍍層測厚儀，表面電鍍層厚度測量儀，油漆涂層測厚儀，便攜式涂層測厚儀，*涂層測厚儀，無損測厚儀，覆層測厚儀。
技術(shù)規(guī)格：
量 程：0～2000μm。
精 度：1μm（0～50μm）；2%（50μm～1000μm）；3%（1000μm～2000μm）。
重復(fù)精度： ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%（＞100μm）。
最小測量曲率直徑：在精度范圍內(nèi)，鐵基φ35mm，非鐵基φ50mm；
（在允許誤差＜10%時(shí)，鐵基為φ10mm，非鐵基為φ2mm）。
最小測量面積直徑：φ4mm（在允許誤差＜10%時(shí)，為φ2mm）。
最小基體厚度：鐵基0.2mm（誤差＜10%時(shí)）；非鐵基0.09mm（誤差＜10%時(shí)）。
重 量：60g（不含電池）。
外形尺寸：64mm×30m×85mm。
電 源：兩節(jié)5號電池。
標(biāo)準(zhǔn)配置：
鐵基型：主機(jī)一臺；鐵基體一塊；標(biāo)準(zhǔn)片一片；儀器盒；操作手冊；
兩用型：主機(jī)一臺；鐵、鋁基體各一塊；標(biāo)準(zhǔn)片一片；儀器盒；操作手冊
