菲希尔fischerscope x-ray xan252，fischerscope x-ray xan252，x射线测厚仪，精度高，菲希尔测厚仪
菲希尔fischerscope x-ray xan252
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250/252
X射线荧光测量仪，配有进的硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。
特点
具有强大的综合测量能力
配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片
配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，还适用于更复杂的多元素分析
由下至上的测量方向，可以非常简便地实现样品定位
典型应用领域
对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量
对有害物质进行痕量分析，例如，玩具中的铅含量
在珠宝和手表业，以及在金属精炼领域，对合金进行分析
用于高校研究和工业研发领域
菲希尔fischerscope x-ray xan252
FISCHERSCOPE XDV-SDD
X射线荧光测试仪，配有可编程XY平台和Z轴，可自动测量超薄镀层和分析痕量元素
仪器特点
高级型号仪器，具有常见的所有功能
射线激发量的灵活性，激发量可根据测量面积大小和光谱组成而改变
通过硅漂移探测器，在 > 10万cps（每秒计数率） 的信号量下也可以正常工作，而不会出现能量分辨率的降低
极低的检测下限和测量重复度
带有快速、可编程 XY 工作台的自动测量仪器
大容量便于操作的测量舱
典型应用领域
测量极薄的镀层，例如应用于电子和半导体行业中
痕量分析，例如根据 RoHS、玩具标准、包装标准对有害物质进行检测
进行黄金和贵金属分析
光伏产业
测量 NiP 镀层的厚度和成分
xan252
