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菲希爾COULOSCOPE CMS2庫倫法測厚儀

COULOSCOPE CMS2 STEP

與COULOSCOPE CMS2附錄中描述的相同功能用于STEP測量測量

可調(diào)節(jié)的除鍍電流

使用光標(biāo)確定涂層厚度和潛在差異

自動測量序列，用于調(diào)節(jié)銀參比電極（產(chǎn)生所需的AgCl涂層）

STEP測試（同時厚度和電化學(xué)勢測定），ASTM B764，DIN EN 16866

測量原理

STEP Test 是(Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination)（同時測量鍍層厚度和化學(xué)電位差）的簡寫， 是已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化很久的測量方法。它可以同時測量各鍍層厚度和多層鎳系統(tǒng)中兩層之間的電化學(xué)電位差。 厚度測量時用庫侖法來測量，電位差通過外面鍍一層 AgCl 的銀參比電極來測量。電壓曲線可以顯示在屏幕上，鍍層厚度和電位差可以在圖上讀出。為了獲得可以比較的穩(wěn)定電位差測量結(jié)果，參比電極到工件的距離必須始終保持不變。 這個問題通過特殊的測量槽得到解決

如果不能使用非破壞性方法，Couloscope CMS2是測量金屬或非金屬基材上幾乎任何金屬涂層厚度的理想儀器，尤其是多層涂層。

COULOSCOPE CMS2 STEP：

除了與COULOSCOPE CMS2相對應(yīng)的涂層厚度測量外，COULOSCOPE CMS2 STEP還提供符合ASTM B764  -  04和DIN EN 16866的STEP測試功能.COULOSCOPE CMS2 STEP非常適合測量單個涂層厚度和 多種鎳涂層的潛在差異以簡單的標(biāo)準(zhǔn)符合方式。

COULOSCOPE CMS2儀器可測量金屬或非金屬基材上幾乎任何金屬涂層的厚度。

儀器功能

單涂層和多涂層系統(tǒng)的測量

圖形顯示，可清晰地顯示測量值，設(shè)定的涂層系統(tǒng)以及作為去鍍速率和測試區(qū)域尺寸的參數(shù)

液晶顯示屏上的電池電壓圖形顯示

適用于大多數(shù)金屬涂層的許多預(yù)定義測量應(yīng)用

可選測量單位：μm或密耳

•歐洲，南美和亞洲展示語言