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當前位置：無錫駿展儀器有限責任公司>>德國FISCHER菲希爾測厚儀>>菲希爾鍍層測厚儀>> 菲希爾X射線測厚儀 XDL230
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌Helmut Fischer/德國菲希爾
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地無錫市
更新時間：2024-12-09 13:41:59瀏覽次數(shù)：590次
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菲希爾X射線測厚儀 XDL230
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希爾X射線測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
XDL 230 特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。典型的應用領域有：
• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
• 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層
• 測量印刷線路板
• 分析電鍍?nèi)芤?/p>
菲希爾代理XDL230 有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。
由于采用了 FISCHER 基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。
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