菲希尔x荧光射线测厚仪X-ray

菲希尔x荧光射线测厚仪X-ray

Fischerscope XAN215 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

菲希尔x射线测厚仪产品用途

菲希尔x射线测厚仪典型的应用领域有:

珠宝、贵金属和牙科用合金分析

菲希尔测厚仪黄金制品和K金制品分析

菲希尔测厚仪铂金制品和银制品分析

铑制品分析

x荧光射线测厚仪其他合金分析和镀层厚度测量

x荧光射线测厚仪多镀层厚度测量 

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，菲希尔x-ray通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。它特别适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度，从元素氯（17）到铀（92），多可同时测定24种元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样，减少了校准仪器所需的时间和精力。Si-PIN的*基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

DUALSCOPE MPO涂层测厚仪是德国菲希尔制造的。Fischer MPO涂层测厚仪集成了磁性测厚仪(P-MP0D)和涡流测厚仪(I-MP0D)的功能。德国Fischer公司的菲希尔MP0涂层测厚仪是D-MP0D仪器的改进产品。它可用于测量铁基和非铁基基体上的涂层厚度。比如:

1.铜、铬、锌等电镀层的厚度。或油漆、涂料、搪瓷等的涂层。在钢铁材料上。

2.铝箔和胶带材料的厚度，如铝、铜和金、纸和塑料薄膜。

3.铜、铝、镁和锌等有色金属材料上的涂层厚度。

4.铝和镁材料上阳极氧化膜的厚度。

5.各种钢和有色金属材料上热喷涂层的厚度。