FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測厚儀

 FISCHERXDV-µ測量儀 

FISCHERXDV-µ測量儀 是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至60µm。FISCHERXDV-µ測量儀短時間內(nèi)就可形成高強度聚焦射線。是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至60µm。短時間內(nèi)就可形成高強度聚焦射線。。是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至60µm。

短時間內(nèi)就可形成高強度聚焦射線。系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至60µm。短時間內(nèi)就可形成高強度聚焦射線。60µm。短時間內(nèi)就可形成高強度聚焦射線。

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