FISCHERSCOPE X-RAY XDL230采用了基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。其測量范圍為元素氯(17)到鈾(92)。適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

菲希爾X射線測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

測量超薄杜策，例如：裝飾鉻

測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

全自動(dòng)測量，如測量印刷線路板

分析電鍍?nèi)芤?/p>

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計(jì)為界面友好的臺(tái)式測量儀器系列。根據(jù)不同的預(yù)期用途，有不同的版本。

XDL 210 型的工作臺(tái)為固定式工作臺(tái)，固定位置的 Z 軸系統(tǒng)。

XDL 220 型的工作臺(tái)為固定式工作臺(tái)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸系統(tǒng)。

XDL 230 型配有可手動(dòng)操控的 X/Y 工作臺(tái)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸升降系統(tǒng)。

XDL 240 型則配備了馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 X/Y 工作臺(tái)，當(dāng)保護(hù)門開啟時(shí)，工作臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到放置樣品的位置。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。