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首页>>沈阳科晶自动化设备有限公司>>产品展示>>实验室检测及分析仪器>>膜厚仪

  • TF200薄膜厚度测量系统 参考价：面议

    TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。TF200薄膜...
    型号： 厂商性质：生产商所在地：沈阳市 对比
    TF200薄膜厚度测量系统薄膜厚度测试仪膜厚仪
    2023/7/20 15:09:232500

  • SGC-10薄膜测厚仪 参考价：面议

    SGC-10薄膜测厚仪适用于介质，半导体，薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪，是我公司与美国new-span公司合作研制的，采用new-spa...
    型号： 厂商性质：生产商所在地：沈阳市 对比
    SGC-10薄膜测厚仪薄膜测厚仪膜厚仪测厚仪
    2018/12/14 14:55:312604
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