這樣我們就需要模擬一定的環(huán)境條件，對產(chǎn)品進(jìn)行高低溫測試，以了解產(chǎn)品在這方面的性能，如測試結(jié)果達(dá)不到我們設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)，我們就要根據(jù)測試情況進(jìn)行產(chǎn)品改進(jìn)，然后重新測試，直至合格。

GB/T 2423.1 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A: 低溫》；

GB/T 2423.2 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B: 高溫》。

GB2423高低溫測試是用帶加熱和制冷功能的可編程高低溫箱進(jìn)行測試。

測試前先檢查測試樣品的狀態(tài)，外觀、功能、性能等是否正常，并拍照；然后，將樣品放入高低溫箱中，設(shè)置溫度箱的高溫、低溫值及各自保持的時間、變溫的時間、周期數(shù)。

比如高溫70 °C下保持2小時，然后從70 °C半小時內(nèi)降到低溫-20 °C，保持2小時，再從-20 °C半小時內(nèi)升溫到70 °C。如此循環(huán)，測試20個循環(huán)。

測完后，拿出樣品，檢查測試后樣品的外觀、功能、性能等。

如發(fā)現(xiàn)樣品跟測試前相比無明顯變化，或者變化在所定的標(biāo)準(zhǔn)范圍之類，則表示測試樣品的抗高低溫循環(huán)性能符合要求，否則為不符合。

電子電器產(chǎn)品的高低溫測試分為高低溫存儲測試和高低溫運(yùn)行測試。

高低溫測試對測試的具體溫度、高溫和低溫各自保持的時間、升溫和降溫的時間、測多少個周期等沒有固定的標(biāo)準(zhǔn)，委托方可以自己制定企業(yè)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)，或按客戶要求制定測試條件。

制定測試條件時可參考產(chǎn)品實(shí)際的存儲環(huán)境、運(yùn)輸環(huán)境及使用環(huán)境等。常做的溫度是-30至70°C，溫度保持時間2小時至8小時不等，變溫時長一般半小時以內(nèi)，循環(huán)周期4至20個周期不等。