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出色的光学器件

视野范围大良好的图像质量

德国蔡司 ZEISS O-INSPECT 光学测量系统来源于蔡司显微镜解决方率技术。与常规镜头相比，此镜头提供四倍更大观察视野，使镜头周边区域亦可确保出色的图像质量。优点:减少测量时间并具有稳定的精度。

更优对比度ZEISS O-INSPECT照明系统

为了获得精确的测量结果，需要高对比度的图像。为此，德国蔡司 ZEISS O-INSPECT 光学测量系统配备了一套多功能的照明系统。迴然不同的形状、纹理和表面颜色可采取不同入射角的方式，让边缘显得清晰可见。

白光

蔡司Dotscan白光探头可对工件进行非接触式扫描。用于测量敏感、具反射性或低对比度的表面，这类表面难以使用其它光学探头进行测显。