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產(chǎn)品型號和價格
A1型 75
C型 75
D型 75
M1型 75
CX4-430 230
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片

磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片

一、A1型簡介：

A1型靈敏度試片先由日本無損檢測學(xué)會提出，以后為多個國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具。

二、特點：試片用于磁粉顯示，圖象直觀，使用簡便。對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時，表現(xiàn)的優(yōu)點。

三、性能規(guī)格：A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1、A2；A1為退火材料制成，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對應(yīng)。本試片為A1 （15/50μ）標(biāo)準(zhǔn)試片。相當(dāng)于A1型試片中2# (30/100μ)標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片，規(guī)格為（8-9）D；適用于中靈敏度探傷，其中括號中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為（微米），D為工件直徑。

四、本套試片包括：

1# 15/100μ

2# 30/100μ

3# 60/100μ

4# 7/50μ

5# 15/50μ

6# 30/50μ

共六片不同規(guī)格的試片組成

五、使用方法：

1、標(biāo)準(zhǔn)試片適宜于連續(xù)磁化法，使用時應(yīng)選適當(dāng)靈敏度的試片，將刻有槽的一面朝向工件，用膠帶紙緊密地貼上，保證試片與被檢面接觸良好，膠帶紙貼于試片兩邊緣，不能覆蓋試片背面的刻槽部位。

2、進(jìn)行外加懸場法，對工件進(jìn)行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，即是磁化電流）。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。

注意事項：