目錄:光焱科技股份有限公司>>傳感器檢測>>SPAD檢測>> SPD2200新型單光子偵測器特性分析設(shè)備
價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,汽車及零部件 |
---|---|---|---|
暗計數(shù)(Dark?Count?Rate) | DCR | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
SPD2200具備全光譜性能測試包含:
*全光譜光譜回應(yīng)(SR, Spectral Responsivity)
*全光譜量子效率(EQE, External Quantum Efficiency)
*全光譜光子探測率(PDP, Photon Detection Probability)
*暗計數(shù)DCR (Dark Count Rate)
*崩潰電壓BDV (Break-Down Voltage)
SPD2200亦能夠測試SPD的單光子辨析特性分析,包含:
*Jitter
*Afterpulsing probability
*Diffusion tail
*SNR
SPD2200整合了所有*進光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng),搭配光焱科技多年光感測器測試與分析的經(jīng)驗,提供完整與便利的軟體控制介面與分析功能。 SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設(shè)的時間成本,並降低測試結(jié)果的不確定性。 加快產(chǎn)品的開發(fā)週期,提升產(chǎn)品的競爭力。
*SPAD的暗計數(shù)與偏壓關(guān)係圖
*SPAD暗計數(shù)與崩潰電壓
*在不同電壓下SPAD光子探測效率的PDE光譜
*SPAD的Jitter測量
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)