西門子電機驅動模塊6SL3120-1TE24-5AA3現貨供應

單端正激變換器的方框圖

初級開關式穩(wěn)穩(wěn)壓電源可以采用許多不同的電路類型。zui有價值的基本電路有單端正激變換器、反激變換器、半橋變換器、全橋變換器、推挽變換器和諧振變換器。

主要開關模式調節(jié)器的總體運行原理顯示在單端前向轉換器的框圖中。

非穩(wěn)壓的供電電壓首先被整流和過濾。直流連接回路電容的容量決定了輸入電壓發(fā)生故障時電源的存儲時間。輸入為 230 V 時，直流連接回路的電壓約為 320 VDC。接下來，將該直流電壓輸入單端變換器，借助脈寬調節(jié)器，以較高的開關頻率，由變壓器將初級電能轉換至次級一側。開關管工作于開關狀態(tài)時，功耗很低，因此，取取決于輸入電壓和電流的不同，功率平衡度將會在 70% 與 90% 之間。

由于轉換頻率高，變壓器的容量必50 Hz變壓器小，因為考慮到轉換頻率越高，變壓器的尺寸就越小。使用現代半導體，可以達到100kHz及以上的時鐘頻率。然而，在*的時鐘頻率下，轉換損失升高，因此在每種情況下，都必須在率和zui大可能時鐘頻率之間折衷。在絕大多數應用中，時鐘頻率在約20 kHz到250 kHz的范圍內，取決于輸出功率的大小。

次級線圈的電壓經過了整流和濾波處理。通過光耦合器，將系統輸出端的偏差反饋至初級回路?？刂泼}沖寬度（控制開關管的相位），可以將所需電能傳輸至次級回路，并調節(jié)輸出電壓。在開關管的非導電相期間，通過輔助線圈，變壓器被退磁。傳輸的電能正好與輸出端所消耗的電能等量。這些電路的脈沖占空比的zui大脈沖寬度小于50%。

優(yōu)點：

• 采用高工作效率，故電磁部件（變壓器、存儲電抗器、過濾器）較小

• 得益于脈寬調節(jié)功能，可工作于率

• 設備單元結構緊湊

• 在千瓦級，無需強制風冷

• 在提高直流線路容量造成電源損壞的情況下，可能發(fā)生多次存儲。

• 可實現寬輸入電壓范圍

缺點：

• 高電路成本，多個活動的元件

• 干擾抑制的高成本

• 機械設計必須符合 HF 標準

近年來，初級開關電源已取代了其他開關式電源。原因是它們的結構十分緊湊，重量很小，效率很高，并具有突出的性價比。

電網電壓的品質，已經成為高敏感電子器件和設備（計算機、工業(yè)控制器、儀器儀表等）正常、可靠地工作以及維護成本和使用壽命的決定性因素。

線路干擾會導致系統故障，并會影響工廠以及電子負載的功能。它們也可能導致裝置或者設備*失去功能。

zui常見的干擾類型有：

• *性過壓

• *性欠壓

• 干擾脈沖和瞬變

• 電壓驟降和沖擊

• 電噪音

• 瞬間網絡故障

• *網絡故障

大量事件可誘至電網干擾，例如：

• 供電系統的開關操作

• 供電系統電纜過長

• 環(huán)境影響，例如雷電

• 線路過載

室內產生的電網電源干擾的典型原因有：

• 可控硅控制的設備

• 升降機、空調、復印機

• 電機、無功功率補償系統

• 電子線圈，大型機器

• 照明設備的開關

電網電壓的干擾的出現可能單獨地，也可能以組合方式地出現

西門子驅動模塊6SL3120-1TE26-0AA3

　計算原理及誤差說明

　　CPU占用時間是通過計算一段時間內（AppHelper設置為2000毫秒）CPU空閑tick值與這段時間里CPU運算周期tick值得出。

　　CPU空閑tick值 = CPU空閑tick計數t2 – CPU空閑tick計數t1

　　CPU總周期tick值 = CPU總周期tick計數t2 – CPU總周期tick計數t1

　　CPU占用 = 1 – （CPU空閑tick值/CPU總周期tick值）×

　　進程或線程的CPU占用，是通過計算一段時間CPU運算周期tick值，和這段周期里Kernel或User運行線程或進程的tick值，通過相除得到。

　　進程/線程Kernel占用 = （進程/線程Kernel運行tick值/CPU總周期tick值）×

　　進程/線程User占用 = （進程/線程User運行tick值/CPU總周期tick值）×

　　進程/線程CPU占用 = 進程/線程Kernel占用 + 進程/線程User占用

　　打印結果可能會有少量誤差，可能由于以下原因：

　　1、實驗值計算到個位，小數部分四舍五入，所以可能產生細微的誤差。

　　2、理想中的測量情況如下圖

　　但是實際情況由于AppHelper本身也會產生系統消耗，所以測量情況為下圖

　　在Δt值不為0的情況下，如果在Δt期間各個tick值產生較大跳動時，測試結果可能產生誤差。

　　3、各個進程或線程的運行tick值并非實時變化，而是在進程或線程完成一個時間片掛起后才加上，所以查詢函數獲得值不一定非常。

　　測試程序及說明