• 符合 IEEE 1149.1 標準
• 執(zhí)行以下測試：
  掃描路徑完整性測試
  連接測試
  上電短路
  互連測試
  總線測試

IEEE 1149.1 標準在 1990 年獲得電氣電子工程師協(xié)會（IEEE）批準，使您無需了解器件的核心邏輯功能便可對器件進行測試。這主要是通過將一連串寄存器串聯(lián)使用而實現，每個寄存器都與器件的一個引腳相關聯(lián)。這個邊界寄存器位于器件的核心邏輯單元和通向器件封裝外部的引腳之間。邊界寄存器的這些特性由 TAP 控制器控制，而整個體系結構全部是在器件中的芯片內部實現的。（圖 1）

通過連接兩個或兩個以上有邊界掃描功能的器件（圖 2），可形成一個互連節(jié)點。在制造業(yè)中，測試主要用于發(fā)現短路和開路缺陷，而且這是通過測試 IC 間互連節(jié)點比特的特定順序來實現的。利用特殊的輸入模式的類型（一種特定模式），通過對相應輸出的判別，可以確定缺陷的種類和位置。

邊界寄存器可以驅動和接收信號，因此無需互連節(jié)點的物理測試接入。

在 Keysight ICT 系統(tǒng)中實施 IEEE 1149.1 意味著能夠根據此標準自動執(zhí)行測試。更大的好處是非邊界掃描節(jié)點可與邊界掃描節(jié)點串聯(lián)在一起進行測試，從而提高測試覆蓋范圍。由于這個“在 ICT 本地”的實施，可以為用戶提供更高效的解決方案。