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HD6000B異頻介質(zhì)損耗自動測試儀使用方法
異頻介質(zhì)損耗自動測試儀使用方法
5.1、主菜單
打開電源開關(guān)，首先顯示
歡迎界面，然后進入主菜單（
如圖5—1）；選擇相應(yīng)的測試選項
進行測量。
圖 5—1
5.2、一般測試
圖 5—2 圖 5—3
先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的與被試品之間的連線，然后將光標(biāo)移動至主菜單的第一項“一般測試"上（
如圖5—1）， 按確認鍵進入下一級設(shè)置菜單（如圖4）。進入詳細參數(shù)設(shè)置菜單（如圖5—2）后，再按確認鍵移動光標(biāo)至每一項，按上、下鍵修改相應(yīng)的參數(shù)設(shè)置。最后，所有相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后按確認鍵將
參數(shù)
1 | 使用條件 | -5℃∽40℃ | RH＜80% | ||
2 | 抗干擾原理 | 變頻法 | |||
3 | 電 源 | AC 220V±10% | 頻率無限制 | ||
4 | 高壓輸出 | 0.5KV∽10KV | 每隔0.1kV | ||
精 度 | 2% | ||||
最大電流 | 200mA | ||||
容 量 | 1500VA | ||||
5 | 自激電源 | AC 0V∽50V/15A | 45HZ/55HZ | ||
6 | 分 辨 率 | tgδ: 0.001% | Cx: 0.1pF | ||
7 | 精 度 | △tgδ:±(讀數(shù)*1.0%+0.040%) | |||
△C x :±(讀數(shù)*1.0%+1.0PF) | |||||
8 | 測量范圍 | tgδ | 無限制 | ||
C x | 15pF ＜ Cx ＜ 200nF | ||||
10KV | Cx ＜ 60 nF | ||||
5KV | Cx ＜ 100 nF | ||||
1KV | Cx ＜ 200 nF | ||||
CVT測試 | Cx ＜ 200 nF | ||||
9 | CVT變比范圍 | 10∽10000 | |||
CVT變比精度 | 0.1% | ||||
CVT變比分辨率 | 0.1 | ||||
10 | 外型尺寸 | 430（L）×330（W）×330（H） | |||
11 | 存儲器大小 | 80 組 支持U盤數(shù)據(jù)存儲 | |||
12 | 重 量 | 28 Kg | |||
光標(biāo)移動至最后一項接著再按一下確認鍵 圖 5—4
離開設(shè)置菜單，進入測試菜單（如圖5—3）。
測試過程中電壓值一項是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑上升至設(shè)置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的測試頻率自動變頻到各相應(yīng)的頻率進行測試，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—4）；移動光標(biāo)可以對結(jié)果數(shù)據(jù)進行保存或者打印等操作。
注 意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線" 。
5.3、CVT測試
圖 5—5 圖 5—6
首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線，然后打開儀器將光標(biāo)移動至主菜單的第二項“CVT測試"上（如圖5—5），按確認鍵進入下一級設(shè)置菜單（如圖5—6）。進入具體設(shè)置菜單（如圖5—6）后，接著先將光標(biāo)移動至此菜單的第“CVT電源設(shè)置"按確認鍵進入，然后再按確認鍵移動光標(biāo)至“電壓設(shè)置"或“頻率設(shè)置"（如圖5—7）上，按上、下鍵調(diào)整到所需的參數(shù)，調(diào)整完成后按確認鍵返回具體設(shè)置菜單（如圖5—6）。最后按上、下鍵移動光標(biāo)將光標(biāo)停留在相應(yīng)的“同時測試"或“分別測試"上，按確認鍵離開此菜單，進入測試菜單（如圖5—8）。
圖 5—7 圖 5—8
測試過程中電壓值一項是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑至設(shè)置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的干擾頻率自動變頻到相應(yīng)的頻率進行測試，測試完成后自動顯示測試結(jié)果。
注 意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線" 。
5.4、CVT變比測試
圖 5—9 圖 5—10
首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好
儀器外部的連線， 然后將光標(biāo)移動至
主菜單的第三項“CVT變比"上（如
圖5—9），按確認鍵進入下一級操作菜
單（如圖5—10）*入電壓設(shè)置菜單
（如圖5—11）設(shè)置好電壓和頻率，然
后返回上一級菜單開始測試。
圖 5—11
5.4、數(shù)據(jù)查詢
圖 5—12 圖 5—13
打開儀器后按上、下鍵將光標(biāo)移動至主菜單的第四項“數(shù)據(jù)查尋"（如圖5—12）上，按確認鍵進入。進入數(shù)據(jù)存放菜單（如圖5—13）后，按上、下鍵移動光標(biāo)至想要查看的數(shù)據(jù)項目上，（儀器所保存的數(shù)據(jù)均是按照測量時間的先后所排列的，第1個數(shù)據(jù)即新數(shù)據(jù)，第80個數(shù)據(jù)即最老數(shù)據(jù)。）再按確認鍵讀取相應(yīng)的數(shù)據(jù)，在此菜單里面可以按上，下鍵移動光標(biāo)至屏幕下方相應(yīng)的“打印" 、“刪除"上，按確認鍵可對數(shù)據(jù)進行打印或刪除等操作。
5.5、時間設(shè)置
圖 5—14 圖 5—15
打開儀器后按上、下鍵將光標(biāo)移動至主菜單的第五項“時間設(shè)置"（如圖5—14）上，按確認鍵進入。進入數(shù)時間菜單（如圖5—15）后，按確認鍵鍵移動光標(biāo)至想要修改的數(shù)據(jù)項目上，然后再按上、下鍵調(diào)整相應(yīng)的“時" 、“分" 、“秒" ，最后將光標(biāo)移動至最后一項后再按一次確認鍵保存修改設(shè)置并退出。
※ 注：
所有步驟在設(shè)置不當(dāng)或想再次改變的情況下，均可按取消鍵返回上一步驟，如果按取消鍵不能實現(xiàn)返回。則可以直接按復(fù)位鍵退到主菜單重新開始設(shè)置