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SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀的主要優(yōu)點和應(yīng)用說明
SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀滿足不同濃度、粒徑分布范圍氣溶膠分析需求；桌面式簡便操作，易上手；連接方便，可靈活搭載各種預(yù)處理裝置；開放式數(shù)據(jù)文件，讀取和分析便捷；可實現(xiàn)自檢測和校準(zhǔn)；強兼容性和靈活性，可以跟市場主流計數(shù)器兼容等。
SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀的主要優(yōu)點有：
快速結(jié)果：在60s甚至更短的時間內(nèi)完成顆粒物粒徑分布的掃描；
高分辨的數(shù)據(jù)：掃描是連續(xù)的，因此在數(shù)據(jù)分布上不存在間隙。總測量通過為162個，每十進范圍64個通道，可為任何超細微粒粒徑測定提供較高的準(zhǔn)確度。
寬的粒徑范圍：應(yīng)用多樣性的靜電分級器和凝聚粒子計數(shù)器，可提供顆粒物粒徑測量。
寬的濃度范圍：可在1～10的8次方個/立方厘米范圍之間進行濃度掃描。
操作簡單：靜電分級器配有內(nèi)置前通道面板和控制把手，允許用戶通過快速設(shè)定進行掃描，并監(jiān)測或控制儀器功能。
實時數(shù)據(jù)顯示：可在微軟Windows操作系統(tǒng)下工作，操作簡單，并可實時顯示各種圖形、表格和統(tǒng)計數(shù)據(jù)。
SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛應(yīng)用于測量氣溶膠粒徑分布的測量標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)同樣被應(yīng)用于對液體懸浮顆粒進行準(zhǔn)確的納米顆粒粒徑測量。粒徑測量是審慎的技術(shù)，在該技術(shù)方法中計數(shù)濃度會被直接測量而無需假設(shè)粒徑分布的形狀。該方法不依賴于粒子或液體的折射率且具有高度的粒徑測量精度和測量可重復(fù)性。采用模塊化、基于組件的設(shè)計，不但具有非常高的粒徑分辨率，還具有快速掃描和自動組件識別功能。