西門(mén)子SMART模擬量輸入模塊EM AE04

閱讀器上存在場(chǎng)干擾

可能的原因：

• 閱讀器正在接收環(huán)境中的干擾脈沖。

– 外部干擾場(chǎng)。干擾場(chǎng)可通過(guò)移動(dòng)閱讀器的“感應(yīng)場(chǎng)指示器”進(jìn)行檢測(cè)。

– 兩個(gè)閱讀器之間的距離太小，不符合組態(tài)準(zhǔn)則。

– 閱讀器連接電纜損壞、太長(zhǎng)或不符合規(guī)范。

• 發(fā)送錯(cuò)誤過(guò)多

經(jīng)過(guò)多次嘗試后，發(fā)送應(yīng)答器仍無(wú)法接收命令，或無(wú)法正確寫(xiě)入來(lái)自通信模塊的數(shù)據(jù)。

– 發(fā)送應(yīng)答器恰好位于傳送窗口的限制區(qū)域內(nèi)。

– 向發(fā)送應(yīng)答器進(jìn)行的數(shù)據(jù)傳送受外部干擾影響。

通信模塊/閱讀器錯(cuò)誤

出錯(cuò)的原因例如：

• CM 和閱讀器之間的通信發(fā)生錯(cuò)誤，或者閱讀器和發(fā)送應(yīng)答器之間的通信發(fā)生錯(cuò)誤。

• 通信模塊無(wú)法處理命令。西門(mén)子SMART模擬量輸入模塊EM AE04

“STATUS”的字節(jié) 3 與出錯(cuò)消息無(wú)關(guān)。

無(wú)法寫(xiě)入發(fā)送應(yīng)答器存儲(chǔ)器

• 發(fā)送應(yīng)答器存儲(chǔ)器出現(xiàn)故障。

• 發(fā)送應(yīng)答器 EEPROM 寫(xiě)入過(guò)于頻繁，即將超過(guò)有效期。

• 發(fā)送應(yīng)答器受到寫(xiě)保護(hù)（存儲(chǔ)器鎖定）。

STEP 7 - 錯(cuò)誤消息

如果已在項(xiàng)目中插入塊和數(shù)據(jù)類型，并在編譯過(guò)程中遇到問(wèn)題，請(qǐng)檢查以下幾點(diǎn)：

• 塊名稱、塊編號(hào)和數(shù)據(jù)類型名稱不得更改。

• 數(shù)據(jù)類型“IID_CMD_STRUCT”和“IID_HW_CONNECT”的內(nèi)容不得更改。這些內(nèi)容只

有在已作為變量連接到數(shù)據(jù)塊時(shí)才可更改。

• 如果使用 Ident 塊，數(shù)據(jù)類型“IID_HW_CONNECT”和“IID_CMD_STRUCT”以及塊

“Ident_Profile”必須始終存在于項(xiàng)目中。