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巨力光電(北京)科技有限公司>>技術(shù)文章>>水溶性NaCl薄膜上GaAs模板的分子束外延

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水溶性NaCl薄膜上GaAs模板的分子束外延

閱讀:962        發(fā)布時(shí)間:2023/12/11
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主要內(nèi)容


目前III-V族化合物襯底費(fèi)用普遍偏高,許多技術(shù)由此受到了其成本的限制。因此,能夠重復(fù)使用原始襯底是一種可行的解決方法,但現(xiàn)有的襯底再利用技術(shù)存在明顯缺陷。在這篇文章中,研究人員討論了一種通過(guò)分子束外延在常用(001)GaAs襯底上沉積水溶性NaCl薄膜的新方法。利用原位電子束和低溫成核層,在連續(xù)的NaCl層上生長(zhǎng)單晶GaAs模板。模板層可以通過(guò)NaCl的溶解而從襯底上快速去除,Lift-off(剝離工藝)后原始晶片rms表面粗糙度僅增加了0.2nm。


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其中研究過(guò)程中使用巨力光電代理的kSA BandiT實(shí)時(shí)襯底溫度測(cè)試儀來(lái)測(cè)量襯底溫度。


產(chǎn)品推薦

1. kSA BandiT實(shí)時(shí)襯底溫度測(cè)試儀 是一種非接觸、實(shí)時(shí)測(cè)量半導(dǎo)體襯底表面溫度的測(cè)試系統(tǒng),采用半導(dǎo)體材料吸收邊隨溫度的變化的原理,實(shí)時(shí)測(cè)量晶片/襯底的溫度。

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文獻(xiàn)信息


Molecular beam epitaxy of GaAs templates on water soluble NaCl thin films 
Brelon J. May, Jae Jin Kim, Patrick Walker, Helio R. Moutinho, William E. McMahon, Aaron J. Ptak, David L. Young*



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