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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
美國APT開爾文探針簡介：
開爾文探針是一種基于振動電容的非接觸無損氣相環(huán)境金屬表面電位的測量技術(shù)，用于測量材料的功函數(shù)(Work Function)或表面勢(Surface Potential)。它可以用于檢測氣相環(huán)境中因溫度、濕度、表面的化學(xué)、電學(xué)、力學(xué)、晶體、吸附、成膜等因素引起的材料表面電勢的微小變化，是一種高靈敏的表面電化學(xué)分析技術(shù)，是只有能夠測定氣相環(huán)境中腐蝕電極表面電位的方法。
美國APT開爾文探針電學(xué)特點：
Current leakage: < 10 fA (漏電精度高)
Frequency: > 150 MHz (測試頻率高)
Capacitance (Guarded): < 10 fF
Impedance: 50 Ohm
Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C
Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level
備注：
APT開爾文探針適用于四線法測試 ，以減小線阻和接觸電阻對測試的影響 ，保證小電阻的測試準(zhǔn)確性。
另外 ，一些高頻測試 ，比如150M左右 ，也可以采用這個。
D. GGB 12C有源探頭
•輸入電容0.1pf
•輸入電阻1.0兆歐
•工作電壓范圍 -10 to +20V
•帶寬dc to 500 MHz
• 12C夾具替換用探針 ( 12C-x-xx)
•射頻探針夾具源 ，可以同時支持兩個探頭使用 ( PS-2)
常用Model 40A系列
產(chǎn)品特點：
( 1) 測試頻率范圍： DC to 40 GHz
( 2) 輸入衰減 ≤ 0.8db
( 3) 反射損耗≧ 18 db
(4) 腳間距:25 to 2540um可選 (腳間距越大 ， 損耗越嚴(yán)重)
( 5) 測試重復(fù)性優(yōu)于-80db
( 6) 單獨彈簧加載觸點設(shè)計
( 7) 材質(zhì)： BeCu , TungQRen or Nickel tips available
( 8) GSG ， SG ， SG ， GSGSG 等可選
( 9) 同軸設(shè)計